XPS

Analyt

Oberflächen von Festkörpern (incl. Pulvern und Granulaten)

• Probenmenge: > 0,3 mm x 0,7 mm
• Analysentiefe: <~ 7 nm
• Nachweisempfindlichkeit: 0,02 - 0,5 at%

Ausstattung

Kratos Axis165

• Röntgenquellen: monochromatisierte Al-Quelle, Al/Mg-Dualanode-Röhre
• Magnetlinse
• Größe des Messfleckes: normal: 300 µm x 700 µm; Microspot-Messung: 120 µm, 60 µm, 30 µm
• Abbildung durch Scannen der Elektronenoptik (Chemical State Imaging), Auflösung ca. 20 µm
• Analysewinkel variabel
• Argonionenkanone zum Sputtern (Tiefenprofil)

Zielgrößen

• Konzentration der Elemente (außer Wasserstoff und Helium) in der Oberfläche
• Bindungszustände der Elemente
• Verteilung dieser Größen lateral und in der Tiefe

Zusätzliche Informationen

• Methodenbeschreibung (PDF, deutsch)
• Oberflächenanalysemethoden (PDF, englisch)

Ansprechpartner

Dr. Andreas Holländer
Forschungsbereich
Funktionale Polymersysteme
Telefon +49 (0) 331/ 568-1404
Fax +49 (0) 331/ 568-2504
E-Mail Andreas.Hollaender@iap.fraunhofer.de

Vergleichs- und Ergänzungsmethoden

• Fluoreszenzmarkierung
• Kontaktwinkelmessung
• Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS)